產品概述
塑料材料介電常數介質損耗測試儀廠家
介電常數介質損耗試驗儀
GDAT-A
介電常數介質損耗試驗儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
塑料材料介電常數介質損耗測試儀廠家技術指標
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023。
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c．標稱誤差
項 目GDAT-A
頻率范圍20kHz～10MHz；
固有誤差≤5％
工作誤差≤7％
頻率范圍10MHz～60MHz；
固有誤差≤6％
工作誤差≤8％
2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H
3．介電常數介質損耗試驗儀電容測量：1~ 460
項 目 GDAT-A
直接測量范圍
1～460pF 主電容調節范圍 準確度 30～500pF 150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1％
注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規則
4．介電常數介質損耗試驗儀信號源頻率覆蓋范圍
項 目
GDAT-A
頻率范圍
10kHz～50MHz
頻率分段
(虛擬)
10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz
塑料材料介電常數介質損耗測試儀廠家電感：
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH
雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。
計算機自動修正技術和測試回路優化 —使測試回路 殘余電感減至低，治療 Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
介電常數測試儀根據靜電學的研究成果， 真空中一個孤立的電荷q 會在其周圍產生電場E，當另外的一個試驗電荷q0 進入到該電場中時會受到電場力的作用。由電荷q 所產生的電場強度為：
其中， ε0為真空中的介電常數；r 為距離點電荷q 的徑向距離。一般來說，電場強度是一個矢量。試驗電荷q0 在距電荷q的距離為r 的點上受到的電場力為：
根據力的反作用性質，電荷q 也同樣受到試驗電荷q0所產生的電場的力的作用且作用力的大小相等方向相反。根據式(1) 可知，真空中的介電常數ε0表征了孤立電荷q 在給定的距離r 上產生的電場強度的大小。如果將式(1) 中的真空條件換為某種電介質， 則同樣的孤立電荷q 所產生的電場強度將可表示為：
其中，ε為該種電介質的介電常數。在實際應用中，人們通常將真空中的介電常數ε0選作一個參照，而將電介質的介電常數ε與ε0的比值定義成為一個無量綱的相對介電常數εr，如式(4) 所示：
由于真空是一個理想的電介質模型( 沒有原子、分子) ，所以，在實際電介質中由于束縛電荷效應使原電荷q所產生的電場有所下降的情況在真空中不可能出現。因此, 針對實際電介質的相對介電常數Er 總是滿足大于或等于1。
由式(3) 可見，介電常數ε表示了電荷q 在電介質中所產生的電場強度的大小的一個制約因素( 除了距離之外，也是*的制約因素) 。顯然，這種推論在靜電場的情況下是*可以被接受的，但是若要將這一推論直接應用到交變電場的情況似乎還有些不充分。交變電場情況下電介質的微觀表現機理與宏觀作用的研究取得了一些成果，但是仍然有待更加深入的研究，也是目前電介質物理、量子物理的重要研究方向和內容之一。
可以確認的是電介質的介電常數所表征的屬性在交變電場的情況下也會對交變電場產生影響。比如，交變電場在電介質中的傳播速度會降低, 頻率不變，波長會變短( 電磁傳播理論)并且介電常數越大，相應的改變也會越大。
標簽：介電常數測試儀 介電常數介質損耗測試儀 高頻介電常數測試儀
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